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加快硅光电技术开发了先进的检测与自动化

概观

本次网络研讨会描述Luna的先进做法,以硅光子学测试及枫叶Photonics公司对模具的自动化测试,以及如何将这两种技术集成到硅光子学的有效完整的解决方案的模块化和灵活的平台。主持人将展示如何,具有快速,精确的器件特性分析技术和智能探针台技术,可以早期在制造过程中评估设计和制造的保真度,即使晶圆完成之前。

与会者将了解到如何将这些延伸到后端处理,光学组件的各个阶段和组件的形式来加速开发周期和消除非增值活动。

重点外卖

  • 了解硅光子学测试的重要性和独特的挑战在硅片,芯片和组件层次
  • 了解如何执行快速,详细的使用LUNA的OBR和OVA技术的所有参数器件特性分析
  • 充分体现您复杂的E-O设计较早从事制造和开发周期,以确定产量的限制,性能余量,FAB错误和其他失误
  • 快速学习和适应您的测试协议,揭示最重要的属性,代表你的设计的操作,并确保制造公差保持

主持人

  • 布赖恩J.索勒,博士,高级副总裁兼总经理,月神创新
  • B.罗伊海明威博士,首席技术总监,枫叶光电

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