光学器件测试和表征

PIC和硅光子学测试

光子集成电路(PICs)是推动通信、光学计算、航空航天、国防和医疗应用进展的关键使能器。bobapp综合体育下载光子集成电路然而,PICs引入了独特的度量挑战,而测试仍然是将产品推向市场的总体成本的一大贡献。bob软件苹果怎么下载现代PICs的有效测试需要更全面和复杂的方法,以确保最佳性能和降低开发成本。

Luna广泛的测试和测量解决方案为客户提供高精度、分辨率和测量速度仪器,以定量评估芯片上每个组件的光学性能,无论是在早期原型阶段还是在生产阶段。

从一侧或两侧访问芯片

Luna拥有以微米级空间分辨率在传输模式或反射模式下观察PICs内部的技术,从而对该设备进行完整的光学表征。

典型的测量包括:

  • 插入损耗(IL)
  • 回波损耗(RL)
  • 偏振相关损耗(PDL)与波长的关系
  • 反射率/传输损耗与距离
  • 反射率/透射损耗与波长的关系
  • 相位响应
  • 群时延(GD)
  • 色散(CD)与波长
  • 偏振模色散(PMD)与波长的关系
  • 二阶PMD与波长的关系
  • 最小/最大损耗由于极化
  • 脉冲响应
  • 琼斯矩阵和穆勒矩阵元素
  • 相位纹波-线性和二次的
  • 极化性能与距离
  • 偏振串扰与距离
  • 偏振度(DOP),偏振状态(SOP)和偏振消光比(PER)

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以无与伦比的速度、精度和空间分辨率测试和表征光纤电缆、组件和网络。Luna公司的OBR反射仪可以分析损失,其空间分辨率和灵敏度在业内是无与伦比的。
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使用我们基于无损光纤挤压器的多功能偏振控制器,控制和管理您的光学系统中的偏振,实现最高性能。仿真所有极化损害参数,包括SOP、PMD和PDL,以及我们用于网络和系统表征的完整系列仿真产品。bob软件苹果怎么下载

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